Decreasing the sensitivity of ADC test parameters by means of wobbling

R. De Vries, A.J.E.M. Janssen

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

3 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Decreasing the sensitivity of ADC test parameters by means of wobbling'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering

Computer Science