De bruikbaarheid van de bovengrensmethode als schatter voor de meetonnauwkeurigheid van 3D-meetmachines

W.P. Vliet, van

Onderzoeksoutput: Boek/rapport › Rapport › Populair

108 Downloads (Pure)

Originele taal-2	Nederlands
Plaats van productie	Eindhoven
Uitgeverij	Technische Universiteit Eindhoven
Aantal pagina's	67
Status	Gepubliceerd - 1990

Naam	TH Eindhoven. Afd. Werktuigbouwkunde, Vakgroep Produktietechnologie : WPB
Volume	WPA0815

Onderzoekopdracht.

Toegang tot document

@book{f2e4aa52eeb84906918b28b484965089,

title = "De bruikbaarheid van de bovengrensmethode als schatter voor de meetonnauwkeurigheid van 3D-meetmachines",

author = "{Vliet, van}, W.P.",

note = "Onderzoekopdracht.",

year = "1990",

language = "Nederlands",

series = "TH Eindhoven. Afd. Werktuigbouwkunde, Vakgroep Produktietechnologie : WPB",

publisher = "Technische Universiteit Eindhoven",

}

TY - BOOK

T1 - De bruikbaarheid van de bovengrensmethode als schatter voor de meetonnauwkeurigheid van 3D-meetmachines

AU - Vliet, van, W.P.

N1 - Onderzoekopdracht.

PY - 1990

Y1 - 1990

M3 - Rapport

T3 - TH Eindhoven. Afd. Werktuigbouwkunde, Vakgroep Produktietechnologie : WPB

BT - De bruikbaarheid van de bovengrensmethode als schatter voor de meetonnauwkeurigheid van 3D-meetmachines

PB - Technische Universiteit Eindhoven

CY - Eindhoven

ER -