DC testing of analog integrated circuits with piecewise linear approximation and interval analysis

D.M.W. Leenaerts, J. Spaandonk, van

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

3 Citaten (Scopus)
110 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
TitelProceedings ISCAS '93, 1993 IEEE International Symposium Chicago, USA, 3-6 May 1993
Pagina's1337-1340
StatusGepubliceerd - 1993

Citeer dit