Correlative microscopic characterization of nanoscale assemblies at interfaces

Michael Alfonsus Beuwer

Onderzoeksoutput: ScriptieDissertatie 1 (Onderzoek TU/e / Promotie TU/e)

122 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
KwalificatieDoctor in de Filosofie
Toekennende instantie
  • Applied Physics
Begeleider(s)/adviseur
  • Zijlstra, Peter, Promotor
  • Prins, Menno W.J., Co-Promotor
Datum van toekenning15 dec 2020
Plaats van publicatieEindhoven
Uitgever
Gedrukte ISBN's978-94-641-9072-4
StatusGepubliceerd - 15 dec 2020

Bibliografische nota

Proefschrift.

Citeer dit