Convergence results for the local defect correction method as an iterative process

Onderzoeksoutput: Boek/rapportRapportAcademic

23 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijTechnische Universiteit Eindhoven
Aantal pagina's29
StatusGepubliceerd - 2000

Publicatie series

NaamRANA : reports on applied and numerical analysis
Volume0014
ISSN van geprinte versie0926-4507

Citeer dit

Anthonissen, M. J. H., Mattheij, R. M. M., & Thije Boonkkamp, ten, J. H. M. (2000). Convergence results for the local defect correction method as an iterative process. (RANA : reports on applied and numerical analysis; Vol. 0014). Eindhoven: Technische Universiteit Eindhoven.