Computing shape parameter sensitivity of the reflected field by using RCWA

N.P. Aa, van der, R.M.M. Mattheij

Onderzoeksoutput: Boek/rapportRapportAcademic

119 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijTechnische Universiteit Eindhoven
Aantal pagina's23
StatusGepubliceerd - 2007

Publicatie series

NaamCASA-report
Volume0710
ISSN van geprinte versie0926-4507

Citeer dit