Comparative study of deep defects in ZnO microwires, thin films and bulk single crystals

F. Schmidt, S. Müller, H. Von Wenckstern, C.P. Dietrich, R. Heinhold, H.S. Kim, M.W. Allen, M. Grundmann

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

9 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Comparative study of deep defects in ZnO microwires, thin films and bulk single crystals'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Material Science

Physics

Chemical Engineering