Combining metrics data and the structure of UML models using GIS visualization approaches

C.F.J. Lange, M.R.V. Chaudron

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

3 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the International Conference on Information Technology (ITCC 2005, Las Vegas NV, USA, April 4-6, 2005)
RedacteurenM. Kato
Plaats van productieLos Alamitos CA, USA
UitgeverijIEEE Computer Society
Pagina's322-326
Volume2
ISBN van geprinte versie0-7695-2315-3
DOI's
StatusGepubliceerd - 2005

Citeer dit