Characterization of the porous structure of mesoporous thin films by ellipsometric porosimetry using the modified Deriaguin-Broekhoff-De Boer model

E.V. Rebrov, M. Creatore, L.N. Protasova, O. Muraza, M.C.M. Sanden, van de, J.C. Schouten

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelMesostructured Materials: Design and Opportunities : proceedings of the 6th Int. Mesostructured Materials Symposium (IMMS 2008), September 9-11 2008, Namur, Belgium
Plaats van productieBelgium, Namur
Pagina'sP-054
StatusGepubliceerd - 2008

Citeer dit