Characterization of semiconductor interfaces using a modified mixed mode bending apparatus

J. Thijsse, O. Sluis, van der, J.A.W. Dommelen, van, W.D. Driel, van, M.G.D. Geers

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

17 Citaten (Scopus)
1 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Characterization of semiconductor interfaces using a modified mixed mode bending apparatus'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering