Characterization and fatigue damage simulation in SAC solder joints

M.E. Erinc, P.J.G. Schreurs, G.Q. Zhang, M.G.D. Geers

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

19 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the 15th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Switzerland, Zürich
Pagina's1287-1292
StatusGepubliceerd - 2004

Citeer dit