Biquadratic interlayer exchange coupling in epitaxial Fe/Si/Fe

G.J. Strijkers, J.T. Kohlhepp, H.J.M. Swagten, W.J.M. de Jonge

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

11 Citaten (Scopus)
67 Downloads (Pure)

Samenvatting

We have studied the biquadratic exchange coupling in epitaxially grown Fe/Si/Fe. The temperature and thickness dependence of the biquadratic coupling strength were determined unambiguously by fitting the easy- and hard-axis magneto-optical Kerr effect loops. The origin of the biquadratic coupling can be fully understood in terms of Slonczewski's loose spins mechanism.

Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)5452-5454
Aantal pagina's3
TijdschriftJournal of Applied Physics
Volume87
Nummer van het tijdschrift9
DOI's
StatusGepubliceerd - 1 mei 2000

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Biquadratic interlayer exchange coupling in epitaxial Fe/Si/Fe'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit