Bias-stress effect in organic field effect transistors

A. Sharma, S.G.J. Mathijssen, M. Kemerink, D.M. Leeuw, de, P.A. Bobbert

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Samenvatting

Abstract only.
Originele taal-2Engels
TitelPhysics@FOM Veldhoven, 19-20 January 2010, Veldhoven, The Netherlands
RedacteurenM. Graef, de, G. Zegers, E. Min, F. Pavert, van de
Plaats van productieUtrecht
UitgeverijStichting FOM
Pagina's170-
StatusGepubliceerd - 2010

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Bias-stress effect in organic field effect transistors'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit