Barrier thickness dependence of the magnetoresistance in TaOx magnetic tunnel junctions

P.H.P. Koller, W.J.M. Jonge, de, R. Coehoorn

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)
111 Downloads (Pure)

Samenvatting

A systematic study has been conducted on the dependence of the magnetoresistance (MR) ratio on the barrier thickness in TaOx-based magnetic tunnel junctions. The relatively low MR ratio (
Originele taal-2Engels
Artikelnummer083913
Pagina's (van-tot)083913-1/4
Aantal pagina's4
TijdschriftJournal of Applied Physics
Volume97
Nummer van het tijdschrift8
DOI's
StatusGepubliceerd - 2005

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Barrier thickness dependence of the magnetoresistance in TaOx magnetic tunnel junctions'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit