Automatic generation of in-circuit tests for board assembly defects

Harm van Schaaijk, Martien Spierings, Erik Jan Marinissen

Electronic Systems

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review

4 Citaten (Scopus)

309 Downloads (Pure)

4 Citaties
1 Conferentiebijdrage

1 resultaten

2018
Automatic generation of in-circuit tests for board assembly defects
van Schaaijk, H., Spierings, M. & Marinissen, E. J., 15 aug. 2018, Proceedings - 2nd IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2018. Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 13-18 6 blz. 8462941
Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review

Open Access
Bestand
5 Citaten (Scopus)

219 Downloads (Pure)