Atomic force microscopy as a tool to study surface roughness effects in X-ray photoelectron microscopy

P.L.J. Gunter, J.W. Niemantsverdriet

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelForces in scanning probe methods : [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods, Schluchsee, Germany, March 7-18, 1994]
RedacteurenH.-J. Güntherodt, D. Anselmitti, E. Meyer
Plaats van productieDordrecht
UitgeverijKluwer Academic Publishers
Pagina's495-
ISBN van geprinte versie0-7923-3406-X
StatusGepubliceerd - 1994
Evenementconference; NATO Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods ; (Schluchsee) : 1994.03.07-18; 1994-03-07; 1994-03-18 -
Duur: 7 mrt 199418 mrt 1994

Publicatie series

NaamNATO ASI Series, Series E: Applied Sciences
Volume286
ISSN van geprinte versie0168-132X

Congres

Congresconference; NATO Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods ; (Schluchsee) : 1994.03.07-18; 1994-03-07; 1994-03-18
Periode7/03/9418/03/94
AnderNATO Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods ; (Schluchsee) : 1994.03.07-18

Citeer dit