Assessment of vulnerable plaque composition by matching the deformation of a parametric plaque model to measured plaque deformation

R.A. Baldewsing, J.A. Schaar, F. Mastik, C.W.J. Oomens, A.F.W. Steen, van der

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

49 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)514-528
TijdschriftIEEE Transactions on Medical Imaging
Volume24
Nummer van het tijdschrift4
DOI's
StatusGepubliceerd - 2005

Citeer dit