Vingerafdruk
Duik in de onderzoeksthema's van 'Analysis of III-V layer stacks on INP substrates using spectroscopic ellipsometry in the NIR spectral range'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.- Sorteer per
- Gewicht
- Alfabetische volgorde
Analysis of III-V layer stacks on INP substrates using spectroscopic ellipsometry in the NIR spectral range
H.G. Bukkems, Y.S. Oei, U. Richter, B. Gruska
Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
4
Citaten
(Scopus)
2
Downloads
(Pure)