Analog automatic test pattern generation

A. Zjajo, J. Pineda de Gyvez

Onderzoeksoutput: Boek/rapport › Rapport › Academic

Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijPhilips Research Laboratories
StatusGepubliceerd - 2006

Publicatie series

NaamTechnical Note
VolumeNL-2005/00912

Citeer dit