An efficient lateral channel profiling of poly-SiGe-gated PMOSFET's for 0.1 μm CMOS low-voltage applications

Y. V. Ponomarev, P. A. Stolk, A. C.M.C. van Brandenburg, C. J.J. Dachs, M. Kaiser, A. H. Montree, R. Roes, J. Schmitz, P. H. Woerlee

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk Duik in de onderzoeksthema's van 'An efficient lateral channel profiling of poly-SiGe-gated PMOSFET's for 0.1 μm CMOS low-voltage applications'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen