Advanced correction techniques for high-performance antenna pattern measurements

M.A.J. van de Griendt; Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT)

Advanced correction techniques for high-performance antenna pattern measurements

M.A.J. van de Griendt, Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT)

Electrical Engineering

Onderzoeksoutput: Scriptie › EngD Thesis

Originele taal-2	Engels
Kwalificatie	Doctor in de Filosofie
Toekennende instantie
Begeleider(s)/adviseur	van Someren Greve, S.C., Externe begeleider Reddy, J., Externe begeleider, Externe Persoon Lemanzcyk, J., Externe begeleider, Externe Persoon Knoben, M.H.M., Externe begeleider, Externe Persoon
Datum van toekenning	1 jan. 1997
Plaats van publicatie	Eindhoven
Uitgever	Technische Universiteit Eindhoven
Gedrukte ISBN's	90-5282-746-X
Status	Gepubliceerd - 1997

Bibliografische nota

Eindverslag

Citeer dit

@phdthesis{65a6a684b89e473c972f9c401994c30a,

title = "Advanced correction techniques for high-performance antenna pattern measurements",

author = "{van de Griendt}, M.A.J. and {Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT)}",

note = "Eindverslag",

year = "1997",

language = "English",

isbn = "90-5282-746-X",

publisher = "Technische Universiteit Eindhoven",

type = "EngD Thesis",

}

TY - THES

T1 - Advanced correction techniques for high-performance antenna pattern measurements

AU - van de Griendt, M.A.J.

AU - Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT)

N1 - Eindverslag

PY - 1997

Y1 - 1997

M3 - EngD Thesis

SN - 90-5282-746-X

PB - Technische Universiteit Eindhoven

CY - Eindhoven

ER -