A real-time study of the a-Si/c-Si interface formation during deposition using ellipsometry, infrared spectroscopy, and second-harmonic generation

P.J. Oever, van den, J.J.H. Gielis, B. Hoex, Richard van de Sanden, W.M.M. Kessels

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan congres › Poster

2 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'A real-time study of the a-Si/c-Si interface formation during deposition using ellipsometry, infrared spectroscopy, and second-harmonic generation'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Material Science