A quasi-static approach for detection and simulation of parametric faults in analog and mixed-signal circuits

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the IEEE Int. Mixed Signal Test Workshop, June 2005
StatusGepubliceerd - 2005

Citeer dit