A novel method of calculating the RPA dielectric function for a semiconductor at real energies

B. Farid, D. Lenstra, W. van Haeringen

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)

Samenvatting

We demonstrate a novel method for direct calculation of the RPA dielectric function for a semiconductor at real energies based on a special point integration procedure. The method is relevant in the context of model-free ab initio calculations of dielectric properties and self-energies in semiconductors.

Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)7-11
Aantal pagina's5
TijdschriftSolid State Communications
Volume67
Nummer van het tijdschrift1
DOI's
StatusGepubliceerd - jul 1988

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'A novel method of calculating the RPA dielectric function for a semiconductor at real energies'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit