A Nanomechanical Testing Framework Yielding Front&Rear-Sided, High-Resolution, Microstructure-Correlated SEM-DIC Strain Fields

T. Vermeij, J.A.C. Verstijnen, T.J.J. Ramirez y Cantador, B. Blaysat, J. Neggers, J.P.M. Hoefnagels (Corresponding author)

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review

16 Citaten (Scopus)
118 Downloads (Pure)

Zoekresultaten