A method for reliability optimization through degradation analysis and robust design

J.A. Bogaard, van den, J.S.R. Jayaram, A.C. Brombacher

    Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

    26 Citaten (Scopus)
    Originele taal-2Engels
    Titel2003 Proceedings annual reliability and maintainability symposium, RAMS, the international symposium on product quality and integrity : Tampa, Florida, USA, 27-30 January 2003
    Plaats van productiePiscataway
    UitgeverijInstitute of Electrical and Electronics Engineers
    Pagina's55-62
    ISBN van geprinte versie0-8703-7717-6
    StatusGepubliceerd - 2003

    Citeer dit