A masking technique to perform high accuracy diffraction experiments on FIB-machined specimens

Tijmen Vermeij, Emeric Plancher, C.C. Tasan

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan congresPosterAcademic

16 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
DOI's
StatusGepubliceerd - 1 apr 2017
EvenementEBSD 2017 - Oxford, Verenigd Koninkrijk
Duur: 4 apr 20175 apr 2017

Congres

CongresEBSD 2017
LandVerenigd Koninkrijk
StadOxford
Periode4/04/175/04/17

Citeer dit