A contribution to testing of analog integrated circuits in de DC domain

D.M.W. Leenaerts, J. Spaandonk, van

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProceeding of European Test Conference 1993, Rotterdam, The Netherlands
Pagina's131-137
StatusGepubliceerd - 1993
Evenement1993 European Test Conference - Rotterdam, Nederland
Duur: 1 jan. 1993 → …

Congres

Congres1993 European Test Conference
Land/RegioNederland
StadRotterdam
Periode1/01/93 → …
AnderEuropean Test Conference 1993, Rotterdam, The Netherlands

Citeer dit