A consistent full-field integrated DIC framework for HR-EBSD

T. Vermeij, J.P.M. Hoefnagels

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review

39 Citaten (Scopus)

277 Downloads (Pure)

39 Citaties
2 Poster
1 Tijdschriftartikel

3 resultaten

2019
Demonstrating the potential of accurate absolute cross-grain stress and orientation correlation using electron backscatter diffraction
Vermeij, T., De Graef, M. & Hoefnagels, J. (Corresponding author), 15 mrt. 2019, In: Scripta Materialia. 162, blz. 266-271 6 blz.
Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review

Open Access
Bestand
27 Citaten (Scopus)

71 Downloads (Pure)
2018

Can we use electrons to measure local stresses in polycrystalline materials?
Vermeij, T. & Hoefnagels, J. P. M., 13 dec. 2018.
Onderzoeksoutput: Bijdrage aan congres › Poster

Open Access
Bestand

79 Downloads (Pure)
Integrated DIC based HR-EBSD: High accuracy and robustness
Vermeij, T. & Hoefnagels, J. P. M., 1 apr. 2018.
Onderzoeksoutput: Bijdrage aan congres › Poster

Open Access
Bestand

53 Downloads (Pure)