A Bypassable Scan Flip-Flop for Low Power Testing with Data Retention Capability

Xugang Cao, Hailong Jiao (Corresponding author), Erik Jan Marinissen

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

1 Citaat (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'A Bypassable Scan Flip-Flop for Low Power Testing with Data Retention Capability'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen