1/f Noise in polysilicon emitter bipolar transistors: Impact of reverse stress degradation

H.A.W. Markus, S.T.J.A. Vermeulen

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. 13th International Conference on Noise in Physical Systems
Plaats van productieSingapore
UitgeverijWorld Scientific
Pagina's466-469
StatusGepubliceerd - 1995
Evenement13th International Conference on Noise in Physical Systems -
Duur: 1 jan 1995 → …

Congres

Congres13th International Conference on Noise in Physical Systems
Periode1/01/95 → …

Citeer dit