1/f Noise in organic thin film transistors: dependence on geometry, bias and illumination

R. Feyaerts, L.K.J. Vandamme, G. Trefan, C. Detcheverry

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelICNF 2001 - 16th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations
RedacteurenG. Bosman
Plaats van productieGainesville Florida USA
UitgeverijWorld Scientific
Pagina's281-284
ISBN van geprinte versie981-02-4677-3
StatusGepubliceerd - 2001

Citeer dit

Feyaerts, R., Vandamme, L. K. J., Trefan, G., & Detcheverry, C. (2001). 1/f Noise in organic thin film transistors: dependence on geometry, bias and illumination. In G. Bosman (editor), ICNF 2001 - 16th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations (blz. 281-284). World Scientific.