1/f Noise in bipolar transistors: Influence of emitter geometry, edge effects, and current crowding

H.A.W. Markus, B.J.J. Hanssen

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. 13th International Conference on Noise in Physical Systems
Plaats van productieSingapore
UitgeverijWorld Scientific
Pagina's462-465
StatusGepubliceerd - 1995
Evenement13th International Conference on Noise in Physical Systems -
Duur: 1 jan 1995 → …

Congres

Congres13th International Conference on Noise in Physical Systems
Periode1/01/95 → …

Citeer dit