1/f And RTS Noise In Submicron Devices: Faster Is Noisier

L.K.J. Vandamme, M Macucci

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

14 Citaties (SciVal)
Originele taal-2Engels
TitelUPon 2005
Pagina's436-443
StatusGepubliceerd - 2005

Citeer dit