SEMI/TestVision 2020: Best ATE Paper of 2016

  • Jeroen De Coster (Ontvanger), Peter De Heyn (Ontvanger), Marianna Pantouvaki (Ontvanger), Brad Snyder (Ontvanger), Hongtao Chen (Ontvanger), Marinissen, Erik Jan (Ontvanger), Philippe Absil (Ontvanger), Joris Van Campenhout (Ontvanger) & Bryan Bolt (Ontvanger)

Prijs: AndersWerk, activiteit of publicatie gerelateerde prijzen (lifetime, best paper, poster etc.)Wetenschappelijk

Omschrijving

Best Paper on Automated Test Equipment (ATE), presented at one of nine selected conferences worldwide on semiconductor testing in 2016.
Mate van erkenningInternationaal
OrganisatiesSEMI

Werk, activiteit of publicatie gerelateerde prijzen (lifetime, best paper, poster etc.)

Toegekend op evenementSEMICON West
LocationSEMICON, San Francisco, CA, Verenigde Staten van Amerika
Periode9 mei 2017 → 9 dec 2017

    Vingerafdruk