Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Most Significant Paper Award IEEE International Test Conference (ITC'08)

  • Marinissen, Erik Jan (Ontvanger), Arendsen, Robert (Ontvanger), Bos, G.A.A. (Ontvanger), Dingemanse, Hans (Ontvanger), Lousberg, G.E.A. (Ontvanger) & Wouters, Clemens R. (Ontvanger)

Prijs: AndersWerk, activiteit of publicatie gerelateerde prijzen (lifetime, best paper, poster etc.)Wetenschappelijk

Omschrijving

for Erik Jan Marinissen, Robert Arendsen, Gerard Bos, Hans Dingemans, Maurice Lousberg, Clemens Wouters, 'A Structured and Scalable Mechanism for Test Access to Embedded Reusable Cores', IEEE International Test Conference (ITC'98), Washington, D.C, October 1998, pp. 284-293
Mate van erkenningInternationaal

Toegekend op evenement

Evenementstitel2008 IEEE International Test Conference (ITC 2008)
LocatieSanta Clara, CA, Verenigde Staten van AmerikaToon op kaart
Periode20 okt. 200824 okt. 2008

    Vingerafdruk