| Evenementstitel | 2008 IEEE International Test Conference (ITC 2008) |
|---|---|
| Locatie | Santa Clara, CA, Verenigde Staten van AmerikaToon op kaart |
| Periode | 20 okt. 2008 → 24 okt. 2008 |
Most Significant Paper Award IEEE International Test Conference (ITC'08)
- Marinissen, Erik Jan (Ontvanger), Arendsen, Robert (Ontvanger), Bos, G.A.A. (Ontvanger), Dingemanse, Hans (Ontvanger), Lousberg, G.E.A. (Ontvanger) & Wouters, Clemens R. (Ontvanger)
Prijs: Anders › Werk, activiteit of publicatie gerelateerde prijzen (lifetime, best paper, poster etc.) › Wetenschappelijk