Most Significant Paper Award IEEE International Test Conference (ITC'08)

  • Marinissen, Erik Jan (Ontvanger), Arendsen, R. (Ontvanger), Bos, G. A. A. (Ontvanger), Dingemanse, H. (Ontvanger), Lousberg, G. E. A. (Ontvanger) & Wouters, C. R. (Ontvanger)

Prijs: AndersWerk, activiteit of publicatie gerelateerde prijzen (lifetime, best paper, poster etc.)Wetenschappelijk

Omschrijving

for Erik Jan Marinissen, Robert Arendsen, Gerard Bos, Hans Dingemans, Maurice Lousberg, Clemens Wouters, 'A Structured and Scalable Mechanism for Test Access to Embedded Reusable Cores', IEEE International Test Conference (ITC'98), Washington, D.C, October 1998, pp. 284-293
Mate van erkenningInternationaal
Toekennende organisatieIEEE International Test Conference 2008

Toegekend op evenement

Evenementstitel2008 IEEE International Test Conference (ITC 2008)
LocatieSanta Clara, CA, Verenigde Staten van Amerika
Periode20 okt 2008 → 24 okt 2008