Most Significant Paper Award IEEE International Test Conference (ITC'10)

Prijs: AndersWerk, activiteit of publicatie gerelateerde prijzen (lifetime, best paper, poster etc.)Wetenschappelijk

Omschrijving

for
Erik Jan Marinissen, Sandeep Kumar Goel, and Maurice Lousberg, 'Wrapper Design for Embedded Core Test', IEEE International Test Conference (ITC'00), Atlantic City, NJ, October 2000, pp. 911-920
Mate van erkenningInternationaal
OrganisatiesIEEE International Test Conference (ITC 2010)

Werk, activiteit of publicatie gerelateerde prijzen (lifetime, best paper, poster etc.)

event2010 IEEE International Test Conference (ITC 2010)
locationMarriott Austin Downtown/Convention Cente, Austin, Verenigde Staten van Amerika
Periode1 nov 2010 → 5 nov 2010