Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Fourier Microscopy for Quality Inspection and Metrology of Nanostructures, NWO-Take off phase 2.

Prijs: NWO › Take-off › Wetenschappelijk

Omschrijving

Fourier Microscopy for Quality Inspection and Metrology of Nanostructures, NWO-Take off phase 2.
Datum van toekenning2022
Mate van erkenningNationaal
Toekennende organisatieNederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek

    Vingerafdruk