Projecten per jaar
Vingerafdruk
Verdiep u in de onderzoeksgebieden waarop Tom J.F. Verstijnen actief is. Deze onderwerplabels komen uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.
- 1 Soortgelijke profielen
Samenwerkingen en hoofdonderzoeksgebieden uit de afgelopen vijf jaar
Recente externe samenwerking op landen-/regioniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken of
Projecten
- 1 Afgelopen
-
Zwaartekracht PSN Research Centre for Integrated Nanophotonics
Fiore, A. (Project Manager), Petruzzella, M. (Projectmedewerker), Curto, A. G. (Projectmedewerker), Godiksen, R. H. (Projectmedewerker), Picelli, L. (Projectmedewerker), Smit, M. (Projectmedewerker), Al-Daffaie, S. (Projectmedewerker), Banfi, E. (Projectmedewerker), van Elst, D. M. J. (Projectmedewerker), Verstijnen, T. J. F. (Projectmedewerker), Perez Sosa, M. (Projectmedewerker), Liang, M. (Projectmedewerker), van Veldhoven, P. J. (Projectmedewerker), Pagliano, F. (Projectmedewerker), Buntinx, S. (Projectmedewerker), Koenraad, P. M. (Projectmedewerker) & Silov, A. Y. (Projectmedewerker)
1/01/14 → 31/03/25
Project: First tier
-
Atomic scale ordering in III-V semiconductors: bridging the gap between theory and experiment
Verstijnen, T. J. F., 2 apr. 2025, Eindhoven: Eindhoven University of Technology. 159 blz.Onderzoeksoutput: Scriptie › Dissertatie 1 (Onderzoek TU/e / Promotie TU/e)
Open AccessBestand38 Downloads (Pure) -
Ordering in GaAs co-doped with Bi and N
Verstijnen, T. J. F. (Corresponding author), Tjeertes, D., Rice, A. D., Alberi, K. & Koenraad, P. M., mei 2024, In: Physical Review Materials. 8, 5, 9 blz., 054605.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand1 Citaat (Scopus)62 Downloads (Pure) -
Atomically resolved study of the unpinned GaN (10 1¯ 0) surface by cross-sectional scanning tunneling microscopy
Banfi, E. G. (Corresponding author), Verstijnen, T. J. F., Monroy, E., Flatté, M. E. & Koenraad, P. M., 15 aug. 2023, In: Physical Review B. 108, 8, 9 blz., 085304.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand2 Citaten (Scopus)23 Downloads (Pure) -
Atomic scale analysis of N dopants in InAs
Verstijnen, T. J. F. (Corresponding author), Tjeertes, D., Banfi, E. G., Zhuang, Q. & Koenraad, P. M., 15 jul. 2023, In: Physical Review B. 108, 4, 10 blz., 045302.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand1 Citaat (Scopus)41 Downloads (Pure) -
Atomic scale study of Si-doped AlAs by cross-sectional scanning tunneling microscopy and density functional theory
Tjeertes, D. (Corresponding author), Vela, A., Verstijnen, T. J. F., Banfi, E. G., Veldhoven, P. J. V., Menezes, M. G., de Janeiro, U. F. D., Koiller, B. & Koenraad, P. M., 15 sep. 2021, In: Physical Review B. 104, 12, 10 blz., 125433.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand5 Citaten (Scopus)175 Downloads (Pure)
Scriptie
-
A study of doping atoms in III/V semiconductors by DFT and X-STM
Verstijnen, T. J. F. (Auteur), Tjeertes, D. (Afstudeerdocent 1) & Koenraad, P. M. (Afstudeerdocent 2), jan. 2021Scriptie/Masterproef: Master
Bestand -
Functionalized probes for new MFM
Verstijnen, T. J. F. (Auteur), Kurnosikov, O. (Afstudeerdocent 1), 2017Scriptie/Masterproef: Bachelor
Bestand