20032021

Onderzoeksresultaten per jaar

Als u wijzigingen in Pure hebt gemaakt, zullen deze hier binnenkort zichtbaar zijn.

Onderzoeksoutput

Towards predictive maintenance via digital twinning: Bridging data-driven and model-based fault detection and isolation

Classens, K. H. J., Oomen, T. A. E., Heemels, W. P. M. H. M., van de Wijdeven, J. J. M., van de Wal, M. M. J. & Aangenent, W. H. T. M., 8 sep 2020, (Geaccepteerd/In druk) DSPE Conference on Precision Mechatronics. Michielsgestel, Netherlands

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Open Access
Bestand
43 Downloads (Pure)

Unified ILC framework for repeating and varying tasks : a frequency domain approach with application to a wire-bonder

Boeren, F. A. J., Bareja, A., Kok, T. & Oomen, T. A. E., 2015, 54th IEEE Conference on Decision and Control, December 15-18, 2015, Osaka, Japan. Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 6724-6729

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)
4 Downloads (Pure)

Uniquely connecting frequency domain representations of given order polynomial Wiener-Hammerstein systems

Rijlaarsdam, D. J., Oomen, T. A. E., Nuij, P. W. J. M., Schoukens, J. & Steinbuch, M., 2012, In : Automatica. 48, 9, blz. 2381-2384

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

Open Access
Bestand
5 Citaten (Scopus)
88 Downloads (Pure)

Using iterative learning control with basis functions to compensate medium deformation in a wide-format inkjet printer

Bolder, J. J., Oomen, T. A. E., Koekebakker, S. H. & Steinbuch, M., 2014, In : Mechatronics. 24, 8, blz. 944-953 10 blz.

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

Open Access
Bestand
41 Citaten (Scopus)
195 Downloads (Pure)

Well-posed model quality estimation by design of validation experiments

Oomen, T. A. E. & Bosgra, O. H., 2009, Proceedings of the 15th IFAC Symposium on System Identification (SYSID 2009) 6-8 July 2009, Saint-Malo, France. Walter, E. (redactie). Oxford: Pergamon, blz. 1199-1204

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

20 Citaten (Scopus)
3 Downloads (Pure)

What does learning control have to offer for your machine? A lot! We will demonstrate it on industrial printers

de Rozario, R., Strijbosch, N. W. A., Blanken, L. L. G., Koekebakker, S. H. & Oomen, T., 4 sep 2018, Conference on Precision Mechatronics. 1 blz.

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

2 Downloads (Pure)