Onderzoeksoutput per jaar
Onderzoeksoutput per jaar
- 15 resultaten
Zoekresultaten
-
2024
IndustReal: A Dataset for Procedure Step Recognition Handling Execution Errors in Egocentric Videos in an Industrial-Like Setting
Schoonbeek, T. J., Houben, T., Onvlee, H., de With, P. H. N. & van der Sommen, F., 9 apr. 2024, 2024 IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision, WACV 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 4353-4362 10 blz. 10484389Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
Open Access -
Proceedings of the Workshop on 3D Geometry Generation for Scientific Computing
Ramirez de Chanlatte, M., Colella, P., Darrell, T., Carlson, A. K., de With, P. H. N., Deng, H., Guan, S., Hays, J., Houben, T., Huisman, T., Jaipuria, N., Johansen, H., Khalid, S., Krishnan, A., Li, C., Pisarenco, M., Raj, A., Rudzicz, F., Schoonbeek, T. J. & Sridhar, S. & 9 anderen, , 16 apr. 2024, 2024 IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision Workshops, WACVW 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 762-766 5 blz. 10495682Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
Bestand45 Downloads (Pure) -
2023
A multi-wafer case study for 3D geometry prediction of FinFET-like structures with top-down SEM imaging
Houben, T., Huisman, T. J., Pisarenco, M., van der Sommen, F. & de With, P. H. N., 14 sep. 2023, International Microscopy Congress (IMC20).Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
-
Depth estimation from SEM images using deep learning and angular data diversity
Houben, T., Pisarenco, M., Huisman, T., Onvlee, H., Sommen, F. V. D. & de With, P., 27 apr. 2023, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVII. Robinson, J. C. & Sendelbach, M. J. (uitgave). SPIE, blz. 1-9 9 blz. 124961E. (Proceedings of SPIE; vol. 12496).Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
1 Citaat (Scopus) -
Method and system of image analysis and critical dimension matching for charged-particle inspection apparatus
Houben, T. (Uitvinder), Pisarenco, M. (Uitvinder), Huisman, T. (Uitvinder), Pu, L. (Uitvinder), Zhou, J. (Uitvinder), Yu, L. (Uitvinder), Chang, Y.-H. (Uitvinder) & Yeh, Y.-L. (Uitvinder), 19 mei 2023, Octrooi Nr. WO2023083559A1, 14 okt. 2022Onderzoeksoutput: Octrooi › Octrooi-publicatie
Open AccessBestand30 Downloads (Pure) -
Probing EUV resist defect detectability using a SEM simulation framework
Wallow, T. I., Jiang, A., Kiers, T., Houben, T. & Spence, C., 22 nov. 2023, Probing EUV resist defect detectability using a SEM simulation framework. Naulleau, P. P., Gargini, P. A., Itani, T. & Ronse, K. G. (uitgave). SPIE, (Proceedings of SPIE; vol. PC12750).Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Professioneel
-
Training procedure for scanning electron microscope 3D surface reconstruction using unsupervised domain adaptation with simulated data
Houben, T. (Corresponding author), Huisman, T., Pisarenco, M., van der Sommen, F. & de With, P., 1 apr. 2023, In: Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology. 22, 3, 17 blz., 031208.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand3 Citaten (Scopus)59 Downloads (Pure) -
2022
Apparatus and method for determining three dimensional data based on an image of a patterned substrate
Houben, T. (Uitvinder), Huisman, T. J. (Uitvinder), Pisarenco, M. (Uitvinder), Middlebrooks, S. A. (Uitvinder) & Batistakis, C. (Uitvinder), 23 jun. 2022, Octrooi Nr. WO2022128373A1, 24 nov. 2021Onderzoeksoutput: Octrooi › Octrooi-publicatie
Open AccessBestand12 Downloads (Pure) -
Depth Estimation from a Single CD-SEM Image Using Domain Adaptation with Multimodal Data
Houben, T., Huisman, T., Pisarenco, M., van der Sommen, F. & de With, P., 2022, Fourteenth International Conference on Machine Vision, ICMV 2021. Osten, W., Nikolaev, D. & Zhou, J. (uitgave). SPIE, blz. 1-9 9 blz. 120841I. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; vol. 12084).Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
1 Downloads (Pure) -
Depth estimation from a single SEM image using pixel-wise fine-tuning with multimodal data
Houben, T. (Corresponding author), Huisman, T., Pisarenco, M., van der Sommen, F. & de With, P. H. N., 1 jul. 2022, In: Machine Vision and Applications. 33, 4, 16 blz., 56.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand11 Citaten (Scopus)228 Downloads (Pure) -
2020
Automatic Quality Assessment of Transperineal Ultrasound Images of the Male Pelvic Region, Using Deep Learning
Camps, S. M., Houben, T., Carneiro, G., Edwards, C., Antico, M., Dunnhofer, M., Martens, E. G. H. J., Baeza, J. A., Vanneste, B. G. L., van Limbergen, E. J., de With, P. H. N., Verhaegen, F. & Fontanarosa, D. (Corresponding author), feb. 2020, In: Ultrasound in Medicine and Biology. 46, 2, blz. 445-454 10 blz.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
11 Citaten (Scopus) -
2019
Automatic deep learning based quality assessment of transperineal ultrasound guided prostate radiotherapy
Camps, S. M., Houben, T., Edwards, C., Antico, M., Dunnhofer, M., Martens, E., Baeza, J., Vanneste, B. G. L., Van Limbergen, E., de With, P. H. N., Verhaegen, F. J. W., Carneiro, G. & Fontanarosa, D., 29 mrt. 2019, In: Journal of Medical Radiation Sciences. 66, S1Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Congresartikel › peer review
Open Access -
Quality assessment of transperineal ultrasound images of the male pelvic region using deep learning
Camps, S., Houben, T., Edwards, C., Antico, M., Dunnhofer, M., Martens, E., Baeza, J., Vanneste, B., van Limbergen, E., de With, P., Verhaegen, F., Carneiro, G. & Fontanarosa, D., 25 feb. 2019, 2018 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS). Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 4 blz. 8579839Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
1 Citaat (Scopus) -
2018
One-class Gaussian process regressor for quality assessment of transperineal ultrasound images
Camps, S., Houben, T., Fontanarosa, D., Edwards, C., Antico, M., Dunnhofer, M., Martens, E., Baeza, J., Vanneste, B., Limbergen, E. V., With, P. D., Verhaegen, F. & Carneiro, G., 2018, Proceedings of the 1st International Conference on Medical Imaging with Deep Learning 2018. Isgum, I., Sanchez, C. & Litjens, G. (uitgave). 10 blz.Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Hoofdstuk › Academic › peer review
Open Access1 Downloads (Pure) -
2013
Entwicklung eines Batteriemanagementsystems
Garayoa Guajardo, R., Maar, J., Houben, T. & Bens, P., 2013, In: ATZextra. 18, 3, blz. 62-69 8 blz.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Professioneel