Onderzoeksoutput per jaar
Persoonlijk profiel
Quote
Control theory is crucial in an increasingly complex world.
Research profile
Siep Weiland is Full Professor in the Control Systems Group of the Department of Electrical Engineering at Eindhoven University of Technology. His research interests are the general theory of systems and control, robust control, model approximation, modeling and control of hybrid systems, identification, and model predictive control.
Weiland was Associate Editor of the IEEE Transactions on Automatic Control from 1995 to 1999, of the European Journal of Control from 1999 to 2003, of the International Journal of Robust and Nonlinear Control from 2001 to 2004 and Associate Editor for Automatica from 2003 to 2006. He was co-organizer of the 13th IFAC Symposium on System Identification in 2003. Weiland is on the board of the Dutch Institute of Systems and Control (DISC).
Academic background
Siep Weiland received both his MSc (1986) and PhD (1991) degrees in mathematics from the University of Groningen. He worked as postdoctoral research associate at the Department of Electrical Engineering and Computer Engineering of Rice University (USA) from 1991 to 1992. Since 1992, Weiland has been affiliated with Eindhoven University of Technology (TU/e). In 2010, Weiland was appointed full-time professor in Spatial-temporal Systems for Control.
Vingerafdruk Duik in de onderzoeksthema's waar Siep Weiland actief is. Deze onderwerplabels komen voort uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.
Energy management
Engineering en materiaalwetenschappen
Controllers
Engineering en materiaalwetenschappen
Identification (control systems)
Engineering en materiaalwetenschappen
Decomposition
Engineering en materiaalwetenschappen
Tensors
Engineering en materiaalwetenschappen
Large scale systems
Engineering en materiaalwetenschappen
Extreme ultraviolet lithography
Engineering en materiaalwetenschappen
Feedforward control
Engineering en materiaalwetenschappen
Netwerk
Recente externe samenwerking op landenniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken.
Onderzoeksoutput 1993 2019
1
Citaat
(Scopus)
120
Downloads
(Pure)
A distributed optimization approach for complete vehicle energy management
Romijn, T. C. J., Donkers, M. C. F., Kessels, J. T. B. A. & Weiland, S., mei 2019, In : IEEE Transactions on Control Systems Technology. 27, 3, blz. 964-980 17 blz., 8267501.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open Access
Bestand
Energy management
Trucks
Climate control
Convex optimization
Fuel consumption
1
Citaat
(Scopus)
57
Downloads
(Pure)
Constrained order observer design for disturbance decoupled output estimation
Merks, R. W. H., Kivits, E. M. M. & Weiland, S., jan 2019, In : IEEE Control Systems Letters. 3, 1, blz. 49-54 6 blz.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open Access
Bestand
Observer Design
Disturbance
Observer
Large scale systems
Output
Control of thermo-mechanical wafer deformations in EUV lithography using an active wafer clamp
van den Hurk, D., Weiland, S. & van Berkel, K., 18 okt 2019, In : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Extreme ultraviolet lithography
clamps
Clamping devices
lithography
wafers
Discussion paper: a new mathematical framework for representation and analysis of coupled PDEs
Peet, M., Shivakumar, S., Das, A. & Weiland, S., 1 jun 2019, In : IFAC-PapersOnLine. 52, 2, blz. 132-137 6 blz.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Congresartikel › Academic › peer review
Open Access
Bestand
Partial differential equations
Boundary conditions
Testing
Frequency domain estimation of spatially varying parameters in heat and mass transport
Das, A., Weiland, S. & van Berkel, M., 29 aug 2019, 2019 American Control Conference (ACC). Philadelphia, PA, USA: Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 600-605 6 blz. 8814465Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
Mass transfer
Sensors
Hot Temperature
Activiteiten 2000 2001
Seminar in Colloquium Series, Mathematics Institute, Rijksuniversiteit Groningen
Siep Weiland (Spreker)10 okt 2001
Activiteit: Types gesprekken of presentaties › Aangemelde presentatie › Wetenschappelijk
MACSI workshop on Model Reduction
Siep Weiland (Organisator)8 okt 2001 → 9 okt 2001
Activiteit: Types deelname aan of organisatie van een evenement › Workshop, seminar, cursus of expositie › Wetenschappelijk
MACSI Workshop on Model Reduction, Eindhoven
Siep Weiland (Spreker)8 okt 2001
Activiteit: Types gesprekken of presentaties › Aangemelde presentatie › Wetenschappelijk
Voordracht, Dept. Astronomy, UNAM, Ensenada, Mexico
Siep Weiland (Spreker)10 jul 2000
Activiteit: Types gesprekken of presentaties › Aangemelde presentatie › Wetenschappelijk
Cursussen
Pers/media
System Level Thinking in High Performance Inkjet Printing
26/04/19
1 Mediabijdrage
Pers / media: Onderzoek
2005_POD Based Model Approximation for an Industrial Glass Feeder
6/05/16
1 item van Media-aandacht
Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar
Scriptie
Active battery balancing
Auteur: Berendsen, F., 31 dec 2015Begeleider: Corporaal, H. (Afstudeerdocent 1), Duarte, J. (Afstudeerdocent 2), Vleeshouwers, J. (Afstudeerdocent 2) & Weiland, S. (Afstudeerdocent 2)
Scriptie/masterproef: Master
Active damping for charge driven piezoelectric nanopositioning stage using self sensing control
Auteur: Di Filippo, R., 19 sep 2018Begeleider: Weiland, S. (Afstudeerdocent 1), Butler, H. (Afstudeerdocent 2), Jansen, B. (Externe coach) & Vandervelden, R. (Externe persoon) (Externe coach)
Scriptie/masterproef: Master
Adaptive control of a flexible TR-robot
Auteur: Doelman, R., 14 feb 1995Begeleider: Kok, J. (Afstudeerdocent 1), Lammerts, I. (Afstudeerdocent 2), Smits, J. (Afstudeerdocent 2), Veldpaus, F. (Afstudeerdocent 2) & Weiland, S. (Afstudeerdocent 2)
Scriptie/masterproef: Master
Bestand
Adaptive port-Hamiltonian discretization of distributed parameter systems
Auteur: Meijer, T., 25 okt 2018Begeleider: Weiland, S. (Afstudeerdocent 1) & van den Hurk, D. (Afstudeerdocent 2)
Scriptie/masterproef: Master
Advanced thermo-mechanical modeling for reticle stages in EUV lithography
Auteur: Insuasty Moreno, E., 31 aug 2012Begeleider: Weiland, S. (Afstudeerdocent 1) & Coene, W. (Afstudeerdocent 2)
Scriptie/masterproef: Master