Onderzoeksoutput per jaar
Onderzoeksoutput per jaar
Persoonlijk profiel
Academic background
Roel Maes holds an MSc (2007) and PhD (2012) degree in Electrical Engineering from the University of Leuven (KU Leuven, BE). He did his PhD research in the Computer Security and Industrial Cryptography lab (COSIC) at the department of Electrical Engineering (ESAT) at KU Leuven, on the topic of Physically Unclonable Functions, under the supervision of prof. Ingrid Verbauwhede. Since 2012, Roel works as a security architect at Intrinsic ID (Eindhoven, NL), and since 2022, he is affiliated with the ICT Lab at the TUe as a University Researcher.
Expertise gerelateerd aan duurzame ontwikkelingsdoelstellingen van de VN
In 2015 stemden de VN-lidstaten in met 17 wereldwijde duurzame ontwikkelingsdoelstellingen (Sustainable Development Goals, SDG's) om armoede te beëindigen, de planeet te beschermen en voor iedereen welvaart te garanderen. Het werk van deze persoon draagt bij aan de volgende duurzame ontwikkelingsdoelstelling(en):
Externe posities
Principal Security Architect, Intrinsic-ID B.V.
1 sep. 2012 → …
Vingerafdruk
Verdiep u in de onderzoeksgebieden waarop Roel Maes actief is. Deze onderwerplabels komen uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.
- 1 Soortgelijke profielen
Samenwerkingen en hoofdonderzoeksgebieden uit de afgelopen vijf jaar
Recente externe samenwerking op landen-/regioniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken of
-
Modeling and Analysis of SRAM PUF Bias Patterns in 14nm and 7nm FinFET Technology Nodes
Masoumian, S., Maes, R., Wang, R., Yerriswamy, K. K., Schrijen, G. J., Hamdioui, S. & Taouil, M., 22 nov. 2023, 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 6 blz. 10321895Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
-
Early RTL Analysis for SCA Vulnerability in Fuzzy Extractors of Memory-Based PUF Enabled Devices
Lai, X., Jenihhin, M., Selimis, G., Goossens, S., Maes, R. & Paul, K., 10 feb. 2021, 2020 IFIP/IEEE 28th International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SOC 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 16-21 6 blz. 9344071Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
2 Citaten (Scopus) -
Long-term Continuous Assessment of SRAM PUF and Source of Random Numbers
Wang, R., Selimis, G., Maes, R. & Goossens, S., 15 jun. 2020, 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 7-12 6 blz. 9116353Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
17 Citaten (Scopus) -
Modeling Static Noise Margin for FinFET based SRAM PUFs
Masoumian, S., Selimis, G., Maes, R., Schrijen, G.-J., Hamdioui, S. & Taouil, M., 2 jul. 2020, 2020 IEEE European Test Symposium (ETS). Institute of Electrical and Electronics Engineers, 6 blz. 9131583Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
5 Citaten (Scopus) -
RESCURE: A security solution for IoT life cycle
Selimis, G., Wang, R., Maes, R., Schrijen, G. J., Münzer, M., Ilić, S., Willems, F. M. J. & Kusters, L., 25 aug. 2020, Proceedings of the 15th International Conference on Availability, Reliability and Security, ARES 2020. Association for Computing Machinery, Inc, blz. 1-10 10 blz.Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
1 Citaat (Scopus)