Projecten per jaar
Vingerafdruk
- 1 Soortgelijke profielen
Samenwerkingen en hoofdonderzoeksgebieden uit de afgelopen vijf jaar
Projecten
- 2 Afgelopen
-
Enable-S3 (EE-ES)
Nelson, A. T. (Projectmedewerker), Goossens, K. G. W. (Project Manager), Stuijk, S. (Projectmedewerker), Tavakoli Najafabadi, R. (Projectmedewerker), Mousavi, M. (Projectmedewerker), van der Hagen, D. (Project communicatie medewerker) & de Mol-Regels, M. (Project communicatie medewerker)
1/05/16 → 31/05/19
Project: Onderzoek direct
-
ASSUME
Jóźwiak, L. (Projectmedewerker), Geilen, M. C. W. (Project Manager), Jordans, R. (Projectmedewerker), Corporaal, H. (Projectmedewerker), Nelson, A. T. (Projectmedewerker), Sánchez Martín, V. (Projectmedewerker), Goossens, K. G. W. (Projectmedewerker), Mousavi, M. (Projectmedewerker), van Dalfsen, J. (Projectmedewerker), van der Hagen, D. (Project communicatie medewerker) & de Mol-Regels, M. (Project communicatie medewerker)
1/09/15 → 31/12/18
Project: Onderzoek direct
-
MTTR reduction of FPGA scrubbing: Exploring SEU sensitivity
Mousavi, M. (Corresponding author), Pourshaghaghi, H. R., Kumar, A. & Corporaal, H., sep. 2023, In: Microprocessors and Microsystems. 101, 12 blz., 104841.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand1 Citaat (Scopus)27 Downloads (Pure) -
Fault Tolerant FPGAs: where to spend the effort?
Mousavi, M., De, S., Pourshaghaghi, H. R. & Corporaal, H., 1 aug. 2019, Proceedings - Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2019. Konofaos, N. & Kitsos, P. (uitgave). Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 651-654 4 blz. 8875164Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
4 Citaten (Scopus)1 Downloads (Pure) -
Scatter scrubbing: a method to reduce SEU repair time in FPGA configuration memory
Mousavi, M., Pourshaghaghi, H. R., Corporaal, H. & Kumar, A., 1 okt. 2019, 2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2019. Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 6 blz. 8875431Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
13 Citaten (Scopus)1 Downloads (Pure) -
A generic methodology to compute design sensitivity to SEU in SRAM-Based FPGA
Mousavi, M., Pourshaghaghi, H. R., Tahghighi, M., Jordans, R. & Corporaal, H., 12 okt. 2018, Proceedings - 21st Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2018. Konofaos, N., Novotny, M. & Skavhaug, A. (uitgave). Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 221-228 8 blz. 8491821Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
Open AccessBestand14 Citaten (Scopus)625 Downloads (Pure) -
Determining the necessity of fault tolerance techniques in FPGA devices for space missions
van Harten, L. D., Mousavi, M., Jordans, R. & Pourshaghaghi, H. R., 1 nov. 2018, In: Microprocessors and Microsystems. 63, blz. 1-10 10 blz.Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
Open AccessBestand9 Citaten (Scopus)353 Downloads (Pure)