• 0 Citaten
20182019
Als u wijzigingen in Pure hebt gemaakt, zullen deze hier binnenkort zichtbaar zijn.

Vingerafdruk Duik in de onderzoeksthema's waar L.M.A. (Loek) Tonnaer actief is. Deze onderwerplabels komen voort uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

  • 1 Vergelijkbare profielen
Quality control Engineering en materiaalwetenschappen
Defects Engineering en materiaalwetenschappen
Surface defects Engineering en materiaalwetenschappen
Image resolution Engineering en materiaalwetenschappen
Image analysis Engineering en materiaalwetenschappen

Netwerk Recente externe samenwerking op landenniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken.

Onderzoeksoutput 2018 2019

  • 1 Conferentiebijdrage
  • 1 Paper
2 Downloads (Pure)

Anomaly detection for visual quality control of 3D-printed products

Tonnaer, L., Li, J., Osin, V., Holenderski, M. & Menkovski, V., 1 jul 2019, 2019 International Joint Conference on Neural Networks, IJCNN 2019. Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 8 blz. 8852372

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Quality control
Defects
Surface defects
Image resolution

Anomaly detection for imbalanced datasets with deep generative models

Santos Buitrago, N. R., Tonnaer, L. M. A., Menkovski, V. & Mavroeidis, D., 8 sep 2018. 15 blz.

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan congresPaperAcademic

Open Access
Bestand
Image analysis

Scriptie

Active learning in VAE latent space

Auteur: Tonnaer, L., 25 sep 2017

Begeleider: Menkovski, V. (Afstudeerdocent 1), Portegies, J. W. (Afstudeerdocent 2) & Holenderski, M. (Afstudeerdocent 2)

Scriptie/masterproef: Master

Bestand

Drawing symmetrical graphs using group theory

Auteur: Tonnaer, L., 2014

Scriptie/masterproef: Bachelor

Bestand