Johan P.M. Hoefnagels - Onderzoeksoutput - Onderzoeksportaal Eindhoven University of Technology

Bekijk Scopus-profiel

E-mailJ.P.M.Hoefnagelstuenl

3401

Citaties

Onderzoeksresultaten per jaar

127 Tijdschriftartikel
115 Conferentiebijdrage
40 Poster
8 Hoofdstuk
Meer

1 resultaten

Filter

2005
A novel diagnostic approach for studying silicon thin film growth
Hoefnagels, J. P. M., 2005, Eindhoven: Technische Universiteit Eindhoven. 174 blz.
Onderzoeksoutput: Scriptie › Dissertatie 1 (Onderzoek TU/e / Promotie TU/e)

Open Access
Bestand
587 Downloads (Pure)