Projecten per jaar
Vingerafdruk
Verdiep u in de onderzoeksgebieden waarop Jihwan Youn actief is. Deze onderwerplabels komen uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.
- 1 Soortgelijke profielen
Netwerk
Recente externe samenwerking op landen-/regioniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken of
Projecten
- 1 Actief
-
TKI-HTSM/21.0218/TKI2112P10 RAISE SPS: Robust AI for SafE (radar) signal processing
Bergmans, J. W. M., Youn, J., Bergmans, J. W. M., Gonzalez Carabarin, L., Karanov, B., Wei, X., Fiorio, L., Chen, C., An, M., Manders, T., Belt, H. J. W. & Lima de Oliveira, M.
1/06/21 → 31/05/28
Project: Onderzoek direct
Onderzoeksoutput
- 4 Conferentiebijdrage
-
A Hybrid Deep Learning Pipeline for Improved Ultrasound Localization Microscopy
Stevens, T. S. W., Herbst, E. B., Luijten, B., Ossenkoppele, B., Voskuil, T. J., Wang, S., Youn, J., Errico, C., Mischi, M., Pezzotti, N. & van Sloun, R. J. G., 1 dec. 2022, 2022 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS). Institute of Electrical and Electronics Engineers, 4 blz. 9958562Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic
1 Downloads (Pure) -
Circular Convolutional Learned ISTA for Automotive Radar DOA Estimation
Youn, J., Ravindran, S., Wu, R., Li, J. & van Sloun, R., 25 okt. 2022, 2022 19th European Radar Conference (EuRAD). Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 273-276 4 blz. 9924887Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review
2 Downloads (Pure) -
Model-based Deep Learning on Ultrasound Channel Data for Fast Ultrasound Localization Microscopy
Youn, J., Luijten, B., Schou, M., Stuart, M. B., Eldar, Y. C., van Sloun, R. J. G. & Jensen, J. A., 15 nov. 2021, 2021 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS). Institute of Electrical and Electronics Engineers, 4 blz. 9593435Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic
Open Access4 Citaten (Scopus)1 Downloads (Pure) -
Deep Learning Models for Fast Ultrasound Localization Microscopy
Youn, J., Luijten, B., Stuart, M. B., Eldar, Y. C., van Sloun, R. J. G. & Jensen, J. A., 17 nov. 2020, 2020 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS). Institute of Electrical and Electronics Engineers, 4 blz. 9251561Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic
Open Access6 Citaten (Scopus)