Netwerk

S. Wurmehl

Externe Persoon: Externe persoon

R.M. Jungblut

  • Frits Philips Inst. Quality Management

Externe Persoon: Externe persoon

A. Reinders

  • Philips Lighting

Externe Persoon: Externe persoon

C.G.F. Blum

Externe Persoon: Externe persoon

E. Snoeck

Externe Persoon: Externe persoon

F.J.A. den Broeder

  • Frits Philips Inst. Quality Management
  • Philips HealthTech

Externe Persoon: Externe persoon

V. Ksenofontov

Externe Persoon: Externe persoon

B. Balke

Externe Persoon: Externe persoon

C. Felser

Externe Persoon: Externe persoon

G.H. Fecher

Externe Persoon: Externe persoon

M. Wójcik

Externe Persoon: Externe persoon

J.M. Gaines

  • Frits Philips Inst. Quality Management

Externe Persoon: Externe persoon

R.M. Wolf

  • Frits Philips Inst. Quality Management

Externe Persoon: Externe persoon

A. Graaf, van der

Externe Persoon: Externe persoon

Robert A. de Groot

Externe Persoon: Externe persoon

M. Valkier

Externe Persoon: Externe persoon

J.J. Attema

Externe Persoon: Externe persoon

Gilles A. de Wijs

Externe Persoon: Externe persoon

C. Mathieu

Externe Persoon: Externe persoon

R.A. Wijs, de

Externe Persoon: Externe persoon

Jonathon K. Ha

Externe Persoon: Externe persoon

B. Hillebrands

Externe Persoon: Externe persoon

Bernd Büchner

  • Leibniz Institute for Solid State and Materials Research Dresden (IFW)
  • Delft University of Technology

Externe Persoon: Externe persoon

J. Fassbender

Externe Persoon: Externe persoon

Michael Bauer

Externe Persoon: Externe persoon

Emile W.J.M. van der Drift

  • Delft University of Technology

Externe Persoon: Externe persoon

S. Fiddy

Externe Persoon: Externe persoon

J.M. De Teresa

  • Universidad de Zaragoza

Externe Persoon: Externe persoon

J.T.W.M. Eemeren, van

  • Frits Philips Inst. Quality Management

Externe Persoon: Externe persoon

H. Fredrikze

  • Delft University of Technology

Externe Persoon: Externe persoon

A. Alfonsov

Externe Persoon: Externe persoon

G. Guntherodt

Externe Persoon: Externe persoon

J.B.F. aan de Stegge

  • Frits Philips Inst. Quality Management

Externe Persoon: Externe persoon

G.A. Groot, de

Externe Persoon: Externe persoon

M.R. Ibarra

Externe Persoon: Externe persoon

G. Reiss

Externe Persoon: Externe persoon

R. Schad

Externe Persoon: Externe persoon

Andrei Kirilyuk

  • Radboud University Nijmegen

Externe Persoon: Externe persoon

F. Ferraro

Externe Persoon: Externe persoon

A.H. Davis

  • Tulane University

Externe Persoon: Externe persoon

T. Isaac-Smith

Externe Persoon: Externe persoon

T. Stobiecki

Externe Persoon: Externe persoon

P. Evans

Externe Persoon: Externe persoon

T.H.M. Rasing

Externe Persoon: Externe persoon

D.J. Maas

Externe Persoon: Externe persoon

S.G. Ebbinghaus

Externe Persoon: Externe persoon

M. Czapkiewicz

Externe Persoon: Externe persoon

K. Takanashi

Externe Persoon: Externe persoon

Corrie W.T. Bulle-Lieuwma

  • Frits Philips Inst. Quality Management

Externe Persoon: Externe persoon

P.H.F. Trompenaars

  • FEI Electron Optics

Externe Persoon: Externe persoon

J. De Boeck

  • 1imec

Externe Persoon: Externe persoon

D. Ebke

Externe Persoon: Externe persoon

C. Magén

Externe Persoon: Externe persoon

Y. Sakuraba

Externe Persoon: Externe persoon

G. Jakob

Externe Persoon: Externe persoon

L. Lagae

Externe Persoon: Externe persoon

C. Hess

Externe Persoon: Externe persoon

Harald Schneider

  • Lentis Mental Healthcare Centre

Externe Persoon: Externe persoon

M. Woicik

Externe Persoon: Externe persoon

J. Barth

Externe Persoon: Externe persoon

M.T. Johnson

Externe Persoon: Externe persoon

Jagadeesh S. Moodera

  • Massachusetts Institute of Technology

Externe Persoon: Externe persoon

C.A. Jenkins

Externe Persoon: Externe persoon

S. Rieding

Externe Persoon: Externe persoon

P.J. van der Zaag

  • Frits Philips Inst. Quality Management
  • University of Groningen

Externe Persoon: Externe persoon

S. Bosu

Externe Persoon: Externe persoon

V. Granata

Externe Persoon: Externe persoon

A. Reller

Externe Persoon: Externe persoon

S. Maat

Externe Persoon: Externe persoon

Ronald H.S. Jansen

  • Massachusetts Institute of Technology
  • University of Twente

Externe Persoon: Externe persoon

A.J. Run, van

Externe Persoon: Externe persoon

S. Rodan

Externe Persoon: Externe persoon

G. Behr

Externe Persoon: Externe persoon

M. Belesi

Externe Persoon: Externe persoon

G.J. Strukers

Externe Persoon: Externe persoon

G. Friemel

Externe Persoon: Externe persoon

S. Riegg

Externe Persoon: Externe persoon

M.J. Carey

Externe Persoon: Externe persoon

M.Th. Rekveldt

  • Delft University of Technology

Externe Persoon: Externe persoon

J.M. MacLaren

  • Tulane University

Externe Persoon: Externe persoon

H.M.B. Boeve

  • 1imec

Externe Persoon: Externe persoon

John R. Williams

  • Auburn University

Externe Persoon: Externe persoon

R.J.G. Elfrink

Externe Persoon: Externe persoon

C. Scheck

Externe Persoon: Externe persoon

V.K. Valev

Externe Persoon: Externe persoon

J.R. Childress

Externe Persoon: Externe persoon

Amalio Fernández-Pacheco

  • University of Cambridge
  • EADS CASA Espacio
  • University of Glasgow

Externe Persoon: Externe persoon

G. Zangari

Externe Persoon: Externe persoon

E. Muré

Externe Persoon: Externe persoon

Rob A.M. Wolters

  • Frits Philips Inst. Quality Management

Externe Persoon: Externe persoon

D.J. Roberts

Externe Persoon: Externe persoon

W. Roy, van

Externe Persoon: Externe persoon

G.A. Gehring

Externe Persoon: Externe persoon