Als u wijzigingen in Pure hebt gemaakt, zullen deze hier binnenkort zichtbaar zijn.

Vingerafdruk Duik in de onderzoeksthema's waar Hadi Ahmadi Balef actief is. Deze onderwerplabels komen voort uit het werk van deze persoon. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Monitoring Engineering en materiaalwetenschappen
Flip flop circuits Engineering en materiaalwetenschappen
Health Engineering en materiaalwetenschappen
Observability Engineering en materiaalwetenschappen
Analytical models Engineering en materiaalwetenschappen
Chip Rekenkunde
Degradation Engineering en materiaalwetenschappen
Monitor Rekenkunde

Netwerk Recente externe samenwerking op landenniveau. Duik in de details door op de stippen te klikken.

Onderzoeksoutput 2017 2019

  • 8 Citaten
  • 3 Conferentiebijdrage
  • 1 Hoofdstuk
  • 1 Tijdschriftartikel
  • 1 Dissertatie 1 (Onderzoek TU/e / Promotie TU/e)

Chip health tracking using dynamic in-situ delay monitoring

Balef, H. A., Goossens, K. & de Gyvez, J. P., 14 mei 2019, Proceedings of the 2019 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2019. Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 304-307 4 blz. 8715014

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Health
Chip
Monitoring
Monitor
Excitation

Efficient in-situ delay monitoring for chip health tracking

Ahmadi Balef, H., 13 dec 2019, (Geaccepteerd/In druk) Eindhoven: Technische Universiteit Eindhoven. 134 blz.

Onderzoeksoutput: ScriptieDissertatie 1 (Onderzoek TU/e / Promotie TU/e)

Open Access
Bestand

Timing speculation with optimal in situ monitoring placement and within-cycle error prevention

Ahmadi Balef, H., Fatemi, H., Goossens, K. & Pineda de Gyvez, J., 1 mei 2019, In : IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 27, 5, blz. 1206-1217 12 blz., 8642528.

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

Monitoring
Clocks
Flip flop circuits
Error correction
Stretching
2 Citaties (Scopus)

Effective In-Situ chip health monitoring with selective monitor insertion along timing paths

Balef, H. A., Fatemi, H., Goossens, K. & De Gyvez, J. P., 30 mei 2018, GLSVLSI 2018 - Proceedings of the 2018 Great Lakes Symposium on VLSI. Association for Computing Machinery, Inc, Vol. Part F137141. blz. 213-218 6 blz.

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Observability
Health
Monitoring
Digital circuits
Degradation

An analytical model for interdependent setup/hold-time characterization of flip-flops

Balef, H. A., Jiao, H., de Gyvez, J. P. & Goossens, K. G. W., 2 mei 2017, Proceedings of the 18th International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED 2017. Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers, blz. 209-214 6 blz. 7918318

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Flip flop circuits
Analytical models
Networks (circuits)